авторефераты диссертаций БЕСПЛАТНАЯ РОССИЙСКАЯ БИБЛИОТЕКА - WWW.DISLIB.RU

АВТОРЕФЕРАТЫ, ДИССЕРТАЦИИ, МОНОГРАФИИ, НАУЧНЫЕ СТАТЬИ, КНИГИ

 
<< ГЛАВНАЯ
АГРОИНЖЕНЕРИЯ
АСТРОНОМИЯ
БЕЗОПАСНОСТЬ
БИОЛОГИЯ
ЗЕМЛЯ
ИНФОРМАТИКА
ИСКУССТВОВЕДЕНИЕ
ИСТОРИЯ
КУЛЬТУРОЛОГИЯ
МАШИНОСТРОЕНИЕ
МЕДИЦИНА
МЕТАЛЛУРГИЯ
МЕХАНИКА
ПЕДАГОГИКА
ПОЛИТИКА
ПРИБОРОСТРОЕНИЕ
ПРОДОВОЛЬСТВИЕ
ПСИХОЛОГИЯ
РАДИОТЕХНИКА
СЕЛЬСКОЕ ХОЗЯЙСТВО
СОЦИОЛОГИЯ
СТРОИТЕЛЬСТВО
ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
ТРАНСПОРТ
ФАРМАЦЕВТИКА
ФИЗИКА
ФИЗИОЛОГИЯ
ФИЛОЛОГИЯ
ФИЛОСОФИЯ
ХИМИЯ
ЭКОНОМИКА
ЭЛЕКТРОТЕХНИКА
ЭНЕРГЕТИКА
ЮРИСПРУДЕНЦИЯ
ЯЗЫКОЗНАНИЕ
РАЗНОЕ
КОНТАКТЫ


Pages:   || 2 | 3 | 4 | 5 |

Методы и аппаратно-программные средства функционального тестирования сбис микроконтроллеров при проведении радиационных испытаний на дозовые воздействия

-- [ Страница 1 ] --

На правах рукописи

ЛЕБЕДЕВ АЛЕКСЕЙ ВИКТОРОВИЧ


МЕТОДЫ И АППАРАТНО-ПРОГРАММНЫЕ СРЕДСТВА ФУНКЦИОНАЛЬНОГО ТЕСТИРОВАНИЯ СБИС МИКРОКОНТРОЛЛЕРОВ ПРИ ПРОВЕДЕНИИ РАДИАЦИОННЫХ ИСПЫТАНИЙ НА ДОЗОВЫЕ ВОЗДЕЙСТВИЯ

Специальность 05.13.05 - Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления

Автореферат

диссертации на соискание ученой степени

кандидата технических наук

Автор:

Москва – 2009г.

Диссертация выполнена в Московском Инженерно – Физическом Институте (государственном университете)

Научный руководитель

доктор технических наук,

профессор Шагурин И.И.

Официальные оппоненты:

доктор технических наук,

профессор Данилин Н.С.

кандидат технических наук Ужегов В.М.

Ведущая организация

ФГУП «Научно-исследовательский институт приборов»

Защита диссертации состоится " 15 "июня 2009 г. в 15:00 часов в МИФИ на заседании диссертационного совета Д212.130.02 по адресу: 115409, Москва, Каширское шоссе, 31.

Телефоны: 324-84-98, 323-91-67.

С диссертацией можно ознакомиться в библиотеке МИФИ.

Автореферат разослан "___" "__________" 2009 г.

Ученый секретарь

диссертационного совета,

доктор технических наук,

профессор П.К.Скоробогатов


Общая характеристика диссертации

Актуальность диссертации

В составе современной электронной аппаратуры широко используются СБИС микроконтроллеров (МК) и микропроцессоров (МП), которые выполняют функции сбора и обработки данных, контроля состояния управляемых объектов, формирования необходимых управляющих воздействий. В ряде применений данная аппаратура должна функционировать в условиях повышенного уровня радиации. Это относится к бортовой аппаратуре космических аппаратов, электронному оборудованию атомных электростанций, приборам для проведения ряда физических экспериментов, электронной аппаратуре военного назначения. Прогресс микроэлектронной технологии дал в руки разработчиков систем большую номенклатуру различных моделей МП и МК, которые отличаются по своей производительности, функциональным возможностям и другим характеристикам. Но только небольшое количество типов МП и МК сертифицированы для специальных применений. Поэтому разработчики аппаратуры во многих случаях вынуждены использовать коммерческие модели этих изделий, основная номенклатура которых поставляется зарубежными производителями. Так как параметры, определяющие стойкость к воздействию ионизирующих излучений, обычно не указываются в числе их технических характеристик, актуальной является проблема реализации специальных испытаний этих изделий для определения необходимых параметров.

Решением задачи определения радиационной стойкости цифровых СБИС занимаются как зарубежные исследователи, так и российские организации - НИИ Приборов, НИИ Космического Приборостроения, ЭНПО «Специализированные электронные системы», ЦНИИ-22 Министерства Обороны, РНИИ Космического приборостроения, ЦНИИ Машиностроения, ВНИИ Экспериментальной Физики, НИИ Измерительных систем, НИИ Ядерной Физики МГУ и ряд других, которые используют для этого различные методы и средства.

Тестирование МК существенно осложняется тем обстоятельством, что обычно они работают под управлением программ, хранящихся в их внутренней энергонезависимой памяти, а для хранения обрабатываемых данных и промежуточных результатов используют внутреннюю оперативную память. Ограниченные возможности доступа к этим ресурсам значительно затрудняют контроль выполнения тестовых программ, необходимый для функционального тестирования и выявления отказавших блоков. Поэтому для проведения их испытаний требуется разработка специальных методов и тестовых программ, позволяющих проконтролировать функционирование различных внутренних блоков МК и выявить причину возникающих отказов. Для выполнения такого тестирования в условиях испытаний МК на радиационную стойкость необходимо использовать специализированные аппаратно-программные средства, учитывающие конструктивные особенности имитирующих и моделирующих установок и конкретные условия проведения испытаний.

Обзор используемых методов и средств, которые описаны в отечественной и зарубежной литературе, показывает, что они реализуют контроль выполнения отдельных процедур, осуществляют проверку работоспособности отдельных блоков. Поэтому актуальным является развитие методов и разработка аппаратно–программных средств, обеспечивающих достаточную полноту функционального тестирования и возможность выявления отказов для всех основных функциональных блоков, входящих в состав микроконтроллеров. Возможность выявления функциональных блоков, наиболее чувствительных к дозовым воздействиям, позволит в ряде случаев повысить допустимый уровень дозовых воздействий для аппаратуры, которая не использует в рабочем режиме соответствующие функции МК.

Целью данной диссертации является разработка методов и аппаратно-программных средств для функционального тестирования современных микроконтроллеров при радиационных испытаниях на дозовые воздействия, обеспечивающих выявление в составе СБИС отказавших функциональных блоков или группы блоков.

Основными задачами диссертации являются:

Анализ функциональной структуры современных МК, разработка их типовой функциональной модели, которая может быть использована для проведения программного тестирования и выявления отказавших блоков.

Разработка методики создания набора тестовых программ для функционального тестирования МК, которая позволит провести подготовку необходимого тестового программного обеспечения и выполнить тестирование в процессе проведения радиационных испытаний с помощью разработанных программ и специализированных аппаратных средств.

Развитие методов, которые позволяют:

- разработать набор тестовых программ, обеспечивающих достаточно полное тестирование функциональных блоков в составе МК и диагностику их отказов;

- обеспечить проведение внешнего контроля корректности выполнения тестовых программ, хранящихся во внутренней памяти, с помощью имеющихся в составе МК параллельных портов;

- выявить по результатам тестирования функциональные блоки (группы блоков), отказ которых приводит к ошибкам выполнения тестовых программ.

Разработка аппаратных средств и тестовых программ для выполнения радиационных испытаний МК в соответствии с предложенной методикой.

Проведение радиационных испытаний ряда моделей МК, перспективных для применения в специальной аппаратуре, анализ полученных результатов.

Научная новизна диссертации

1. На основе анализа архитектуры ряда семейств МК предложен базовый вариант тестируемой функциональной модели микроконтроллеров (ТФМ), которая обеспечивает возможность контроля работоспособности основных функциональных блоков при проведении программного тестирования, когда их работоспособность определяется по результату выполнения определенного набора тестовых программ. Предлагаемая ТФМ позволяет достаточно полно представить функционирование микроконтроллеров при выполнении типового набора команд.

2. Предложен метод формирования тестовых наборов команд с помощью таблицы покрытия, которая указывает участие функциональных блоков в выполнении каждой команды, входящей в состав формируемых тестовых программ. Таблица покрытия позволяет определить, насколько полно разработанный набор программ обеспечивает тестирование основных функциональных блоков тестируемого МК.

3. Предложен метод формирования заданных циклических последовательностей, который позволяет зафиксировать результаты выполнения тестовых программ, анализируя состояние портов ввода-вывода. Данные, выдаваемые в порты ввода-вывода, считываются аппаратурой тестового модуля, корректность выполнения тестовых программ контролируется путем сравнения считанных данных с эталонами, полученными в процессе разработки программ.

4. Для выявления отказавших функциональных блоков предложен метод наложения виртуальных функциональных сегментов, в состав которых входят группы функциональных блоков, участвующих в выполнении соответствующей тестовой программы. Для выявления блоков, являющихся наиболее вероятными источниками отказов, предлагается использовать матрицу результатов, которая указывает корректность выполнения каждой тестовой программы.

5. Разработана общая методика создания набора тестовых программ для функционального тестирования МК, обеспечивающая подготовку необходимого тестового программного обеспечения и проведение тестирования с помощью разработанных программ и специализированных аппаратных средств. Данная методика, использующая разработанную ТФМ и предложенные методы функционального тестирования, позволяет выполнить программное тестирование и выявление отказавших функциональных блоков.

6. Предложены алгоритмы тестирования основных функциональных блоков, входящих в состав МК. Алгоритмы представлены в виде циклограмм, использование которых упрощает разработку необходимых тестовых программ на языке Ассемблера.

Практическая значимость диссертации

1. На базе предложенной общей методики разработаны частные методики функционального тестирования и тестовые программы для проведения дозовых радиационных испытаний широко применяемых МК:

- 8-разрядный микроконтроллер с CISC-архитектурой типа AT89S52 (процессорное ядро MCS-51, компания Atmel);

- 8-разрядный микроконтроллер с RISC-архитектурой типа ATmega128L-8AI (процессорное ядро AVR, компания Atmel);

- 32-разрядный микроконтроллер с RISC-архитектурой типа LPC2114FBD64 (процессорное ядро ARM, компания NXP Semiconductor).

2. Разработан комплект аппаратно-программных средств, позволяющих выполнять функциональный контроль МК в непрерывном режиме облучения с помощью испытательных установок, а также в сеансовом режиме.

3. С помощью разработанных методов и средств функционального контроля проведены радиационные испытания указанных МК, в процессе которых определены уровни их стойкости к дозовым эффектам и выявлены наиболее критические функциональные блоки. Показано, что для всех исследованных образцов функциональный отказ возникает раньше, чем достигается превышение допустимого значения тока потребления или происходит выход за нормативные пределы уровней логических «0» и «1». Таким образом контроль функционирования МК является важным этапом определения их стойкости к дозовым воздействиям.

4. С помощью разработанных методов и аппаратно–программных средств проведено прогнозирование радиационной стойкости образцов МК типа ATmega128L в условиях низкоинтенсивного облучения и оценка возможностей повышения срока их безотказной работы при переменном режиме функционирования (чередование активного и пассивного режимов). Показано, что использованная методика позволяет прогнозировать дозовую стойкость отдельных образцов и отбирать для последующего применения образцы с необходимым уровнем стойкости. Оценка эффективности применения переменного режима функционирования показала для испытанных МК возможности повышения срока безотказной работы на 32 %.

Внедрение результатов диссертации.

Набор разработанных тестовых программ и аппаратно-программные средства использовался в ЭНПО «Специализированные электронные системы» при проведении исследований радиационной стойкости на дозовые воздействия ряда типов микроконтроллеров: ATmega128L, LPC2114, TN80C196KB, 1880ВЕ71У, 1830ВЕ01У, ATtiny12, Am186ER, AT89S52, AT89S8252, MQ80C186, PIC16C774, с помощью имитационных установок РЕИМ-2. Разработанные тестовые программы и аппаратно-программные средства использовались также работах по прогнозированию радиационной стойкости образцов МК типа ATmega128L в условиях низкоинтенсивного облучения и оценки возможностей повышения срока их безотказной работы при переменном режиме функционирования (чередование активного и пассивного режимов работы), которые проводились в МИФИ по заказу НИИ Космического приборостроения.

Положения, выносимые на защиту.

1. Тестовая функциональная модель микроконтроллеров (ТФМ), которая обеспечивает возможность контроля работоспособности основных блоков по результатам выполнения определенного набора тестовых программ.

2. Метод формирования тестовых наборов команд с помощью анализа маршрутов их выполнения и составления таблицы покрытия, которая показывает участие функциональных блоков в выполнении каждой команды, входящей в состав формируемых тестовых программ.

3. Метод формирования заданных циклических последовательностей, который позволяет зафиксировать результаты выполнения набора тестовых программ, анализируя состояние портов ввода-вывода.

4. Метод наложения виртуальных функциональных сегментов, который обеспечивает выявление отказавших функциональных блоков в составе тестируемого МК с помощью матрицы результатов, указывающей корректность выполнения тестовых программ из разработанного набора.

5. Методика создания набора тестовых программ для функционального тестирования МК, которая позволяет провести подготовку необходимого тестового программного обеспечения и провести тестирование в процессе проведения радиационных испытаний с помощью разработанных программ и специализированных аппаратных средств.

6. Алгоритмы тестирования основных функциональных блоков, входящих в состав МК, представленные в виде циклограмм, использование которых упрощает разработку необходимых тестовых программ на языке Ассемблера.

7. Методики функционального тестирования и тестовые программы для испытаний на дозовые воздействия трех широко применяемых МК: 8-разрядный микроконтроллер с CISC-архитектурой AT89S52 (процессорное ядро MCS-51), 8-разрядный микроконтроллер с RISC-архитектурой ATmega128L (процессорное ядро AVR); 32-разрядный микроконтроллер с RISC-архитектурой LPC2114FBD64 (процессорное ядро ARM).

8. Комплект аппаратно-программных средств (тестовый модуль и специализированное программное обеспечение), позволяющий выполнять функциональный контроль МК в непрерывном режиме облучения с помощью имитирующих установок, а также в сеансовом режиме.

9. Результаты исследований образцов трех типов МК, которые позволили выявить критические блоки, определяющие стойкость микроконтроллеров к дозовым эффектам, и показали, что функциональный отказ возникает при существенно меньших уровнях накопленной дозы, чем достигается превышение допустимого значения тока потребления или происходит выход за нормативные пределы уровней логических «0» и «1».

Апробация результатов диссертации

Основные результаты диссертации докладывались на российских научных конференциях “Радиационная стойкость электронных систем” (г. Лыткарино, 2005, 2006, 2008г.г.), на научных сессиях МИФИ (г. Москва, 2005, 2006, 2008, 2009 гг.).

Публикации

По результатам диссертации опубликовано 12 печатных работ, в том числе 1 в реферируемом издании, рекомендованном ВАК.

Структура и объем диссертации

Диссертация состоит из введения, 4 глав, заключения, списка литературы, включающего 115 наименований, и приложений. Содержание диссертации изложено на 158 страницах машинописного текста, включая 30 рисунков и 27 таблиц.

Основное содержание диссертации

Микроконтроллеры – это класс микропроцессорных устройств, которые ориентированы на выполнение функций управления различными объектами. В связи с широким диапазоном задач, решаемых современными системами управления, в их составе используется широкая номенклатура МК, отличающихся производительностью процессора, объемом внутренней памяти команд и данных, набором периферийных устройств, входящих в их состав.

В первой главе рассматриваются основные характеристики ряда широко используемых семейств МК, обсуждаются причины их функциональных отказов при воздействии ионизирующих излучении, дается обзор методов и средств функционального контроля, используемых при проведении радиационных испытаний.

Как показывает проведенный обзор, номенклатура современных МК отличается большим разнообразием используемых архитектур, широким набором процессорных ядер и периферийных блоков. В их составе используются 8-, 16- и 32-разрядные процессоры, имеющие CISC (Complex Instruction Set Computer – процессор со сложным набором команд) или RISC (Reduced Instruction Set Computer – процессор с сокращенным набором команд) архитектуру. Большинство 8-разрядных МК ориентировано на применение с внутренней памятью команд (ROM, EEPROM или Flash-память) и не имеют выхода на системную шину. Это существенно осложняет процедуру контроля работоспособности МК при проведении радиационных испытаний. В большинстве моделей 16- и 32-разрядных МК для реализации приложений также предполагается использование внутренней памяти программ. В случае необходимости эти МК могут работать совместно с внешней памятью, для чего они подключаются к системной шине.

Наиболее массовое применение в настоящее время находят 8-разрядные МК. Однако возрастающие требования к реализации многофункциональных систем, выполняющих сложные алгоритмы обработки больших объемов данных, приводят к быстрому росту выпуска и применения 32-разрядных МК. Поэтому в данной диссертации в качестве объектов исследования используются наиболее популярные семейства 8- и 32-разрядных МК.

Электронная аппаратура, в состав которой входят МП и МК, функционирует в условиях воздействия ионизирующих излучений, возникновение которых обусловлено рядом факторов естественного и искусственного происхождения. В качестве элементной базы в современных МК используются элементы на комплементарных МОП-транзисторах. Под влиянием накопленной дозы характеристики МОП-транзисторов и реализованных на их базе логических элементов изменяются, что приводит к функциональным и параметрическим отказам аппаратуры. Функциональные отказы возникают, в первую очередь, из-за искажения передаточной характеристики Uвых = f(Uвх) логических элементов, в результате которого нарушаются условия их корректного переключения и цифровое устройство перестает выполнять заданные функции. Функциональный отказ цифровой микросхемы возникает, когда в одном или нескольких логических элементах, находящихся в состоянии Uвых = U1, ток утечки достигает критического значения Iу.кр, при котором на выходе этих элементов устанавливается ложный уровень U0. Анализ функционирования КМОП микросхем при воздействии ионизирующих излучений, проведенный в ряде работ, позволяет сделать вывод, что токи утечки закрытых транзисторов, приводящие к существенному изменению логических уровней и нарушению условий переключения КМОП элементов, являются основной причиной возникновения функциональных отказов цифровых микросхем, в том числе МК и МП.



Pages:   || 2 | 3 | 4 | 5 |
 





 
© 2013 www.dislib.ru - «Авторефераты диссертаций - бесплатно»

Материалы этого сайта размещены для ознакомления, все права принадлежат их авторам.
Если Вы не согласны с тем, что Ваш материал размещён на этом сайте, пожалуйста, напишите нам, мы в течении 1-2 рабочих дней удалим его.